CARACTERISATION ET MESURES DE LONGUEURS D’ONDE

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CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR LA SPECTROMETRIE PHOTO ELECTRONIQUE X(XPS), LA MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL LA SPECTROSCOPIE RAMAN ET LA DIFFRACTION DES ELECTRONS LENTS

CARACTERISATION DES MATERIAUX PAR LA SPECTROMETRIE PHOTO ELECTRONIQUE X(XPS), LA MICROSCOPIE A EFFET TUNNEL LA SPECTROSCOPIE RAMAN ET LA DIFFRACTION DES ELECTRONS LENTS Aujourd‟hui, les techniques de caractérisation de surface sont présent dans plusieurs laboratoires de recherche en physique, chimie,...

Le silicium poreux et ses applications

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Les systèmes optiques à Accès multiple par répartition de code

Télécharger le fichier original (Mémoire de fin d'études) Techniques de multiplexages optique En télécommunications, les techniques de multiplexage représentent l'une des fonctions essentielles des réseaux d'accès où plusieurs signaux sont combinés en un signal sur un seul médium de communication...

Propriétés structurales, électroniques, optiques et thermiques des ternaires CuXTe2 (X= Al, Ga, In)

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Généralités sur les composés dérivés du thiénothiophène

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Etude des caractéristiques I-V de l’hétérojonction CdS/CdTe: effet de la température, de l’ensoleillement et du taux de dopage

Propriétés électriques du CdS Le sulfure de cadmium est un matériau de type n qui, à la température ambiante, a une résistivité électrique assez élevée permettant de l’utiliser comme une couche tampon très mince dans les cellules solaires photovoltaïques polycristallines...